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香港科技大学在11届高交会上展示射频识别技术基准检验研究新进展

香港科技大学计算机科学及工程学系于第十一届中国国际高新技术成果交易会中展示射频识别技术基准检验方法学的研究，并与商界交流及分享研究成果。

射频识别技术基准检验方法学的研究范畴广泛，而「多天线多卷标」测试研究则为其中一个应用范围，亦是该系在今届交易会中所展示的主要项目。于展会期间，研究人员向在场参观的厂商、学术界人士讲解研究项目的目标及研究过程，并分享研究测试中所遇的挑战和所得的成果。研究小组期望把项目的研究结果和心得跟业界交流，以协助商界解决在应用射频识别技术上的问题，藉以鼓励不同的业界使用射频识别技术，推动技术的发展。

当射频识别技术应用于商界作业时，经常要面对同时使用多个天线及卷标的实际操作环境，而「多天线多卷标」的测试研究能够模仿常见的射频识别技术的应用环境，测试使用多个天线及多个卷标时的数据采集结果，以基准检验方法来减少或消除各种能影响射频识别设备的因素，从而掌握最优的天线及货品摆放位置。此外，在射频识别技术的应用上，技术的性能经常受不同因素所影响，例如天线高度、卷标密度、天线的数量、读取距离、包装等等。因此，「多天线多卷标」测试研究能协助解决由环境、材料和设备所造成的限制，并确保所有的标签都能被正确地识别。

香港科技大学计算机科学及工程学系获香港创新科技署及香港物流及供应链管理应用技术研发中心资助，致力于射频识别技术的基准检验研究，并推动技术在商界的广泛应用。今届中国国际高新技术成果交易会于深圳会展中心举行，展期为11月16日至21日。